<var id="ffhre"><legend id="ffhre"><font id="ffhre"></font></legend></var>
  • <tbody id="ffhre"></tbody>
  • <rp id="ffhre"></rp>
    <s id="ffhre"><object id="ffhre"></object></s>
    <dd id="ffhre"></dd>

      <span id="ffhre"></span>
      <span id="ffhre"></span>
      <button id="ffhre"><acronym id="ffhre"></acronym></button>
      <tbody id="ffhre"></tbody>
      您好!歡迎訪問安徽智微科技有限公司網站!
      全國服務咨詢熱線:

      13951825145

      當前位置:首頁 > 產品中心 > 芯片表征設備 > 膜厚測量儀
      • 薄膜測厚儀
        薄膜測厚儀

        更新時間:2024-04-09

        型號:

        瀏覽量:1616

        薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點,可在真空環境使用;可與大行程工件臺配合,實現大面積膜厚自動測量。
        了解詳情
      共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
      安徽智微科技有限公司
      地址:安徽省合肥市經開區尚澤大都會A座2214
      郵箱:1053185136@qq.com
      傳真:
      關注我們
      歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息:
      歡迎您關注我們的微信公眾號
      了解更多信息
      国产免费久久精品九九久久,国产高清亚洲精品视bt天堂频,婷婷中文视频在线,高中生被c到爽哭视频